Beschreibung der Anlage
Die Analysemethode der optischen Emissionsspektrometrie (OES) mit induktiv gekoppeltem Plasma macht sich zunutze, dass angeregte Atome und Ionen elektromagnetische Strahlung emittieren, deren Strahlungsintensität zum quantitativen Nachweis von Elementen verwendet werden kann. Zu diesem Zweck müssen die Elemente aus ihren Verbindungen in den angeregten Zustand überführt werden, was durch Einleitung der Probenlösung in ein Plasma stattfindet. Die angeregten Elektronen der Elemente emittieren beim Übergang in den Grundzustand elementspezifische Strahlung in Form von elektromagnetischen Wellen. Die Wellenlängen des emittierten Lichtes werden anhand einer kalibrierten Skala bestimmt, wobei die Messung mit einem photoelektrischen Detektor erfolgt. Die Vorteile sind die große Empfindlichkeit (0,02 - 50 µg/L) bei guter Präzision (RSD < 1 %) und kurzen Analysenzeiten.
Technische Details:
- nasschemische, quantitative Elementanalyse
Multi-Element-Analyse im Spurenbereich (ppm)
- Wellenlängenbereich 125 - 770 nm
- simultane Spektrenerfassung (22 CCD)
- automatischer Probenwechsler
- komfortable System-Software
30823 Garbsen
