Röntgenmikroskop (XRM) Xradia 520 Versa der Fa. Zeiss

• Auflösung bis zu 900 nm

• Röntgenquelle mit 30–160 kV (geeignete für Materialien erhöhter Dichte wie z. B. Stähle)
• Diverse Objektive für unterschiedliche Vergrößerungen (0.4-fach, 4-fach und 20-fach)
• FPX Flat Panel für kurze Messzeiten an großen Proben
• Beugungskontrast-Tomografie für kristallografische Analysen der Korngrößenorientierung (LabDCT)
• In-Situ-Modul für Zug- und Druckversuche inklusive Probentemperierung von -20 °C bis 160 °C (Deben CT5000-Tec)
• Correlative Workflow in Kombination mit dem Zweistrahlsystem Zeiss Auriga

Das Röntgenmikroskop wurde im Rahmen der DFG-Großgeräteinitiative „Röntgenografisches Hochdurchsatzscreening für die Materialentwicklung“ vom Institut für Werkstoffkunde (IW), der Medizinischen Hochschule Hannover (MHH) und dem Institut für Kontinuumsmechanik (IKM) beschafft. Die Beantragung von Messzeiten kann der Nutzungsordnung entnommen werden.

Kontakt: xrm@iw.uni-hannover.de