im HIS-LSF
Art der Veranstaltung | Vorlesung + Übung |
Niveaustufe | Hauptstudium / Master |
Semester | Wintersemester |
Creditpoints | 5 CP |
Dozenten/Professoren | Dr.-Ing. T. Heidenblut |
Modulbeschreibung:
Die Lehrveranstaltung behandelt verschiedene optische Analyseverfahren und physikalische Methoden zur Charakterisierung von optischen Komponenten. Ausgehenden von den physikalischen Grundlagen werden die Analyseverfahren in ihrer Funktion, ihren sinnvollen Einsatzmöglichkeiten und ihren Grenzen erläutert. Schwerpunkte bilden dabei die mikroskopischen und spektroskopischen Methoden. Einsatzbeispiele und praktische Demonstrationen vertiefen dabei das Verständnis. Die Studierenden sollen so in die Lage versetzt werden, bei sich stellenden Analyseaufgaben die sinnvollen Verfahren zu wählen und die Messergebnisse interpretieren zu können.
Inhalte der Lehrveranstaltung
Physikalische Grundlagen, Optik, mikroskopische Verfahren (verschiedene Licht-, Laser-, Rasterelektronen- und Transmissionselektronenmikroskope, Mikrosonde, etc.), spektroskopische Verfahren (Glimmentladungsspektroskopie, ICP-OES, etc.), technische Realisierung, Interpretation der Messergebnisse, Anwendungsbeispiele, praktische Vorführungen.
Ihr Betreuer und Ansprechpartner
30823 Garbsen